Wu, Tzung Shian: шукати на сайті Z-Library

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (12)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

1

Source-End Layout Influences on MOSFET ESD Protection Devices in a 0.35um 5V Process

Chen, Shen Li, Lee, Min Hua, Wu, Tzung Shian

Журнал:

Advanced Materials Research

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 785 KB

english, 2013

2

Quasi-planar bulk CMOS technology for improved SRAM scalability

Changhwan Shin, Chen Hua Tsai, Mei Hsuan Wu, Chung Fu Chang, You Ren Liu, Chih Yang Kao, Guan Shyan Lin, Kai Ling Chiu, Chuan-Shian Fu, Cheng-tzung Tsai, Chia Wen Liang, Borivoje Nikolić, Tsu-Jae King

Журнал:

Solid-State Electronics

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 797 KB

english, 2011

3

Effects of laminated soft layer on magnetization reversal of exchange coupled composite media

Hou, Hao-Cheng, Lin, Meng-Shian, Liao, Jung-Wei, Wu, Tzung-Lin, Lai, Chih-Huang, Chen, Rong-Zhi, Lee, Jye-Long, Lin, Hong-Ji, Chang, Fan-Hsiu, Yang, Jyh-Shinn

Журнал:

Journal of Applied Physics

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 494 KB

english, 2009

4

[IEEE ESSDERC 2010 - 40th European Solid State Device Research Conference - Sevilla, Spain (2010.09.14-2010.09.16)] 2010 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference - Tri-gate bulk CMOS technology for improved SRAM scalability

Shin, Changhwan, Nikolic, Borivoje, King Liu, Tsu-Jae, Tsai, Chen Hua, Wu, Mei Hsuan, Chang, Chung Fu, Liu, You Ren, Kao, Chih Yang, Lin, Guan Shyan, Chiu, Kai Ling, Fu, Chuan-Shian, Tsai, Cheng-tzung

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 729 KB

english, 2010

5

[IEEE 2010 International Symposium on Next-Generation Electronics (ISNE) - Kaohsiung, Taiwan (2010.11.18-2010.11.19)] 2010 International Symposium on Next Generation Electronics - To achieve a novel weak snapback characteristic in the high voltage nLDMOS

Chen, Shen-Li, Wu, Tzung-Shian, Chen, Hung-Wei, Shih, Chun-Hsing, Chen, Po-Ying

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.15 MB

english, 2010

6

Production and isolation of chitosan from Aspergillus terreus and application in tin(II) adsorption

Cheng, Li-Chun, Wu, Tzung-Shian, Wang, Jian-Wen, Wu, Szu-Han, Chung, Mei-Hui, Kuo, Yi-Ming, Tsai, Cheng-Hsien

Журнал:

Journal of Applied Polymer Science

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 522 KB

english, 2014

7

[IEEE 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology (ICSICT) - Shanghai, China (2010.11.1-2010.11.4)] 2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology - Optimized latch-up design of a high voltage nLDMOSFET

Chen, Shen-Li, Wu, Tzung-Shian, Chen, Hung-Wei, Shih, Chun-Hsing, Chen, Po-Ying

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 405 KB

english, 2010

8

Investigation of the Interfacial Reaction between Optical Glasses and Various Protective Films and Mold Materials

Chao, Choung Lii, Huo, Cheng Bang, Chou, Wen Chen, Wu, Tzung Shian, Ma, Kung Jen, Kuo, Chien Huang, Chen, Ying Tung, Chao, Chung Woei

Журнал:

Defect and Diffusion Forum

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.56 MB

english, 2010

9

An Optimization Design in the HV nLDMOS by Taguchi Method

Chen, Shen Li, Wu, Tzung Shian, Chen, Yun Ru, Chen, Hung Wei, Shih, Chun Hsing, Chen, H.H.

Журнал:

Advanced Materials Research

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 306 KB

english, 2012

10

Influence of a Deep NBL Structure on ESD/Latch-Up Immunities in the Power Device nLDMOS

Chen, Shen Li, Wu, Tzung Shian

Журнал:

Advanced Materials Research

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 418 KB

english, 2013

11

Reliability LU Appropriate Designs in an HV nLDMOS

Chen, Shen Li, Wu, Tzung Shian

Журнал:

Applied Mechanics and Materials

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 398 KB

english, 2012

12

[IEEE 2016 International Symposium on Computer, Consumer and Control (IS3C) - Xi'an, China (2016.7.4-2016.7.6)] 2016 International Symposium on Computer, Consumer and Control (IS3C) - Influences of Substrate Pickup Integrated with the Source-End Engineering on ESD/Latch-Up Reliabilities in a 0.35-um 3.3-V Process

Chen, Shen-Li, Lee, Min-Hua, Wu, Tzung-Shian

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.05 MB

english, 2016